2012年 6月7日，中国科学院计划财务局组织专家在高能物理研究所对“二维X射线探测器的研制”项目进行了现场验收。验收专家组听取了项目组的研制工作和使用报告、财务报告及测试专家组的测试报告，现场核查了研制设备的运行情况，审核了相关的文件档案及财务账目。验收专家组认为研制设备的各项技术指标达到或优于实施方案规定的要求，实现了X射线探测的二维精确定位，填补了国内高计数率X射线气体成像探测器的技术空白，一致同意通过验收。鉴于该成果具有广阔的应用前景，验收专家组建议继续开展该设备小型化研制工作，进一步促进该项目成果的应用和推广。

二维X射线探测设备采用200mm×200mm气体电子倍增器膜（GEM）为主要探测部件，项目组经过多年潜心研究，开发了相关探测器的制作工艺，解决了电极结构设计的关键技术问题，研制了多路快读出前端电子学及高速数据获取系统。该设备的特点是：有效探测面积大、位置分辨好、计数率高，具有同步辐射晶体衍射和二维成像功能，现已在北京同步辐射大分子实验站进行了晶体衍射实验，实现了X射线的高计数率、高分辨率探测，可以满足同步辐射的使用需求，可望在X射线衍射、小角散射和成像等方面开展广泛的应用研究。

二维X射线探测设备